JIS C5021-1978 电子元器件寒冷试验规程
时间:2024-04-29 23:28:19 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9994
【英文标准名称】:Coldtestingproceduresforelectroniccomponents
【原文标准名称】:电子元器件寒冷试验规程
【标准号】:JISC5021-1978
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1978-09-01
【实施或试行日期】:1978-09-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:通信设备;电气元件;电子设备及元件;试验;低温学;低气温试验;低温
【英文主题词】:communicationequipment;cold-weathertests;cryogenics;lowtemperatures;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:
【页数】:5P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Non-destructivetesting-Radioscopictesting-GeneralprinciplesofradioscopictestingofmetallicmaterialsbyX-andgammarays
【原文标准名称】:无损检验.射线检验.χ和γ射线对金属材料进行射线检验的一般原理
【标准号】:BSEN13068-3-2001
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2001-09-25
【实施或试行日期】:2001-09-25
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:γ辐射;X射线;放射性试验;无损检验;金属;辐射摄影术;探伤
【英文主题词】:
【摘要】:ThisEuropeanStandardspecifiesgeneralrulesforindustrialX-andgamma-radioscopyforflawdetectionpurposes,usingradioscopictechniques,applicabletothetestingofmetallicmaterials.Itdoesnotlaydownacceptancecriteriaofthediscontinuities.
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:19_100
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:GeneralInstructions
【原文标准名称】:总规程
【标准号】:ASMEPTC1-1999
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1999-01-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国机械工程师协会(US-ASME)
【起草单位】:ASME
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:性能;规格试验;控制;试验设备;试验;规范(验收);性能试验
【英文主题词】:ratingtests;controlling;performance;testing;specification(approval);performancetests;testequipment
【摘要】:
【中国标准分类号】:J70
【国际标准分类号】:19_020
【页数】:28P.;A4
【正文语种】:英语